介质损耗因数试验仪/介电常数测试仪 满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法

一、  概述

 

GDAT高频 Q 表作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前高的160MHz。

 

  主要技术特性  

Q 值测量范围  2 ～ 1023 ， 量程分档： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自动换档或手动换档  

固有误差  ≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）  

工作误差  ≤7％ ± 满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）  

电感测量范围  4.5nH ～ 140mH  

电容直接测量范围  1 ～ 200pF  

主电容调节范围  18 ～ 220pF  

主电容调节准确度  100pF 以下 ± 1pF ； 100pF 以上 ± 1 ％  

信号源频率覆盖范围  100kHz ～ 160MHz  

频率分段 （ 虚拟 ）  100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz  

频率指示误差  3 × 10 -5 ± 1 个字  

 

搭配了全新的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用。 

 

 

BD916介质损耗测试装置技术特性 

 

平板电容器： 极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选 　　　　　 

极片间距可调范围：≥15mm 

2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm 

3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 （1MHz） 

4．测微杆分辨率：0.001mm

 

 

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