高频介质损耗测试系统由S916测试装置（夹具）、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT）、及LKI-1型电感器组成，它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值（tanδ）和介电常数（ε）自动测量的*解决方案。

介电常数测试仪BH916测试装置GDAT高频Q表

平板电容极片Φ50mm/Φ38mm                      可选频率范围20KHz-60MHz/200KHz-160MHz

间距可调范围≥15mm                                       频率指示误差3×10-5±1个字

夹具插头间距25mm±0.01mm                        主电容调节范围30-500/18-220pF

测微杆分辨率0.001mm                                    主调电容误差<1%或1pF

夹具损耗角正切值≦4×10-4 （1MHz）             Q测试范围2～1023

北京北广精仪仪器设备有限有限公司

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联 系 人：李丛林

地 址：北京市海淀区建材城西路50号

公司：http://www.beiguangjy.com

介电常数测试仪《BH916介质损耗装置》（测试夹具）是测试系统的核心检测部件，它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。BH916介质损耗测试装置是本公司研制的更新换代产品，精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能，克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。

线圈号                   测试频率               Q值                  分布电容p              电感值

   9                          100KHz                   98                       9.4                      25mH

   8                            400KHz                 138                  11.4                      4.87mH

   7                            400KHz                202                     16                        0.99mH

    6                           1MHz                    196                     13                            252μH

    5                           2MHz                   198                     8.7                          49.8μH

   4                           4.5MHz                  231                      7                            1 0μH

    3                          12MHz                   193                    6.9                           2.49μH

    2                          12MHz                    229                   6.4                          0.508μH

    1                           25MHz                  233                    0.9                         0.125μH

                                 50MHz                   211