搭配了全新的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用

BD916介质损耗测试装置技术特性 

平板电容器： 极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选  
1.极片间距可调范围：≥15mm 
2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm 
3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 （1MHz） 
4．测微杆分辨率：0.001mm

介电常数介质损耗试验仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法
一、介电常数介质损耗试验仪概述

GDAT高频 Q 表作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前高的160MHz。   

  主要技术特性  
A Q 值测量范围  2 ～ 1023 ，  B 量程分档： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自动换档或手动换档     C 固有误差  ≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）     D 工作误差  ≤7％ ±     E  满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ±     F  满度值的2％（10MHz～160MHz）    

G  电感测量范围  4.5nH ～ 140mH              H 电容直接测量范围  1 ～ 200pF        I  主电容调节范围  18 ～ 220pF  J 主电容调节准确度  100pF 以下 ± 1pF ； 100pF 以上 ± 1 ％       K 信号源频率覆盖范围  100kHz ～ 160MHz        L 频率分段 （ 虚拟 ）  100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz                  M 频率指示误差  3 × 10 -5 ± 1 个字 

 
电感：
 
线圈号    测试频率    Q值    分布电容p       电感值  
  9         100KHz      98       9.4           25mH
  8         400KHz     138       11.4        4.87mH
  7         400KHz    202       16           0.99mH
  6           1MHz     196       13          252μH
  5           2MHz     198       8.7        49.8μH
  4         4.5MHz    231       7             10μH 
  3          12MHz      193     6.9         2.49μH
  2          12MHz      229     6.4        0.508μH             
  1   25MHz，50MHz   233，211    0.9       0.125μH