- 介电常数介质损耗试验仪
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介电常数介质损耗试验仪
介电常数介质损耗试验仪：GDAT-A
满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法
GDAT-A
的技术指标
1．Q值测量Q值测量范围：2～1023。
Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。
项 目 GDAT-A
频率范围 20kHz～10MHz；固有误差 ≤5％±满度值的2％；
工作误差 ≤7％±满度值的2％；
频率范围 10MHz～60MHz；
固有误差 ≤6％±满度值的2％；
工作误差 ≤8％±满度值的2％。
2．电感测量范围：14.5nH~8.14H
3．电容测量：1~ 460
项 目 GDAT-A
直接测量范围； 1～460pF
主电容调节范围
准确度；30～500pF；150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％
注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则
4．信号源频率覆盖范围
项 目 GDAT-A
频率 范围 10kHz～50MHz
频率分段
（虚拟）10～99.9999kHz；100～999.999kHz；1～9.99999MHz；10～60MHz
概述
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至zui低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。
用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz，50MHz 233，211 0.9 0.125μH介电常数介质损耗测试仪使用方法：
测试准备工作
先要详细了解配用Q表的使用方法，操作时，要避免人体感应的影响。
a. 把配用的Q表主调谐电容置于较小电容量。
b. 把本测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端子上。
c. 配上和测试频率相适应的高Q值电感线圈（本公司 Q表配套使用的LKI-1电感组能满足要求）， 如：1MHz 时电感取250uH，15MHz时电感取1.5uH。d. 短按ON/OFF按键，打开液晶显示屏。
e. 调节平板电容器测微杆，使平板电容器二极片相接为止，长按SET按键将初始值设置为0。
4．介电常数Σ的测试
a. 再松开二极片，把被测样品插入二极片之间，调节平板电容器，到二极片夹住样品止（注意调节时要用测微杆，以免夹得过紧或过松），这时能读取的
北京市海淀区建材城西路50号 ：
测试装置液晶显示屏上的数值，既是样品的厚度D2。改变Q 表上的主调电容容
量，使Q 表处于谐振点上。
b. 取出平板电容器中的样品，这时Q 表又失谐，此时调节平板电容器，
使Q 表再回到谐振点上，读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D4
c. 计算被测样品的介电常数：
Σ＝D2 / D45．介质损耗系数的测试
a. 重新把测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端上。
把被测样品插入二极片之间，改变Q 表上的主调电容容量，使Q 表处于谐振点
上，读得Q 值，记为Q2。电容读数记为C2。
b. 取出平板电容器中的样品，这时Q 表又失谐，再改变Q 表上的主调电容
容量，使Q 表重新处于谐振点上。读得Q 值，记为Q1。电容读数记为C1。
c. 然后取下测试装置，再改变Q 表上的主调电容容量，重新使之谐振，电
容读数记为C3，此时可计算得到测试装置的电容为CZ = C3 －C1
d. 计算被测样品的介质损耗系数
式中：CZ 为测试装置的电容（平板电容器二极片间距为样品的厚度D2）
C0 为测试电感的分布电容（参考LKI-1 电感组的分布电容值）