介电常数介质损耗测试仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

 满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法

  主要技术特性  

电感测量范围       4.5nH ～ 140mH  
电容直接测量范围       1 ～ 200pF  
主电容调节范围        18 ～ 220pF  
主电容调节准确度    100pF 以下 ± 1pF ； 100pF 以上 ± 1 ％  
信号源频率覆盖范围  100kHz ～ 160MHz  
频率分段 （ 虚拟 ） 100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz  
Q 值测量范围   2 ～ 1023 ，

 量程分档： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自动换档或手动换档  
固有误差     ≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）  
工作误差    ≤7％ ± 满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）  
频率指示误差  3 × 10 -5 ± 1 个字  

概述

BD916介质损耗测试装置与本公司生产的各款高频Q表配套，可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）。
BD916介质损耗测试装置是BD916914的换代产品，它采用了数显微测量装置，因而读数方便，数据精确。
测试装置由一个LCD数字显示微测量装置和一对间距可调的平板电容器极片组成。
平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。
BD916介质损耗测试装置须配用Q表作为调谐指示仪器，通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化，测得绝缘材料的损耗角正切值。
从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。 

BD916介质损耗测试装置技术特性 

平板电容器： 极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选  
极片间距可调范围：≥15mm 
2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm 
3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 （1MHz） 
4．测微杆分辨率：0.001mm

本仪器测试仪方法如下： 

仪器的测试准备工作
先要详细了解配用Q表的使用方法，操作时，要避免人体感应的影响。
a. 把配用的Q表主调谐电容置于较小电容量。
 

b. 把本测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端子上。
 

c. 配上和测试频率相适应的高Q值电感线圈（本公司 Q表配套使用的LKI-1电感组能满足要求），           如：1MHz 时电感取250uH，15MHz时电感取1.5uH。
 

d. 短按ON/OFF按键，打开液晶显示屏。
 

e. 调节平板电容器测微杆，使平板电容器二极片相接为止，长按SET按键将初始值设置为0。

4．介电常数Σ的测试

a. 再松开二极片，把被测样品插入二极片之间，调节平板电容器，到二极片夹住样品止（注意调节时要用测微杆，以免夹得过紧或过松），这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值，既是样品的厚度D2。改变Q 表上的主调电容容量，使Q 表处于谐振点上。

b. 取出平板电容器中的样品，这时Q 表又失谐，此时调节平板电容器，使Q 表再回到谐振点上，读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D4

c. 计算被测样品的介电常数：
                         Σ＝D2 / D4

5．介质损耗系数的测试

a. 重新把测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端上。把被测样品插入二极片之间，改变Q 表上的主调电容容量，使Q 表处于谐振点上，读得Q 值，记为Q2。电容读数记为C2。

b. 取出平板电容器中的样品，这时Q 表又失谐，再改变Q 表上的主调电容容量，使Q 表重新处于谐振点上。读得Q 值，记为Q1。电容读数记为C1。

c. 然后取下测试装置，再改变Q 表上的主调电容容量，重新使之谐振，电容读数记为C3，此时可计算得到测试装置的电容为CZ = C3 －C1

d. 计算被测样品的介质损耗系数公式如下：



式中：CZ 为测试装置的电容（平板电容器二极片间距为样品的厚度D2）C0 为测试电感的分布电容（参考LKI-1 电感组的分布电容值）