- 北京介电常数介质损耗测试仪 介电常数测试仪
- 北京介电常数介质损耗测试仪 介电常数测试仪
仪器参数请往下看 测试步骤 ☞ 仪器参数
本仪器测试仪测试步骤如下:
仪器的测试准备工作
先要详细了解配用Q表的使用方法,操作时,要避免人体感应的影响。
a. 把配用的Q表主调谐电容置于较小电容量。
b. 把本测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端子上。
c. 配上和测试频率相适应的高Q值电感线圈(本公司 Q表配套使用的LKI-1电感组能满足要求), 如:1MHz 时电感取250uH,15MHz时电感取1.5uH。
d. 短按ON/OFF按键,打开液晶显示屏。
e. 调节平板电容器测微杆,使平板电容器二极片相接为止,长按SET按键将初始值设置为0。
4.介电常数Σ的测试
a. 再松开二极片,把被测样品插入二极片之间,调节平板电容器,到二极片夹住样品止(注意调节时要用测微杆,以免夹得过紧或过松),这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值,既是样品的厚度D2。改变Q 表上的主调电容容量,使Q 表处于谐振点上。
b. 取出平板电容器中的样品,这时Q 表又失谐,此时调节平板电容器,使Q 表再回到谐振点上,读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D4
c. 计算被测样品的介电常数:
Σ=D2 / D45.介质损耗系数的测试
a. 重新把测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端上。把被测样品插入二极片之间,改变Q 表上的主调电容容量,使Q 表处于谐振点上,读得Q 值,记为Q2。电容读数记为C2。
b. 取出平板电容器中的样品,这时Q 表又失谐,再改变Q 表上的主调电容容量,使Q 表重新处于谐振点上。读得Q 值,记为Q1。电容读数记为C1。
c. 然后取下测试装置,再改变Q 表上的主调电容容量,重新使之谐振,电容读数记为C3,此时可计算得到测试装置的电容为CZ = C3 -C1
d. 计算被测样品的介质损耗系数公式如下:
式中:CZ 为测试装置的电容(平板电容器二极片间距为样品的厚度D2)
C0 为测试电感的分布电容(参考LKI-1 电感组的分布电容值)以下为仪器参数
满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
主要参数:
电感测量范围 4.5nH ~ 140mH 电容直接测量范围1 ~ 200pF 主电容调节范围 18 ~ 220pF主电容调节准确度100pF 以下 ± 1pF ; 100pF 以上 ± 1 % 信号源频率覆盖范围 100kHz ~ 160MHz 频率分段 ( 虚拟 )
电感测量范围 4.5nH ~ 140mH 电容直接测量范围 1 ~ 200pF 主电容调节范围 18 ~ 220pF 主电容调节准确度 100pF 以下 ± 1pF ; 100pF 以上 ± 1 % 信号源频率覆盖范围 100kHz ~ 160MHz 频率分段 ( 虚拟 ) 100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,
10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz
频率指示误差 3 × 10 -5 ± 1 个字 主要技术特性
Q 值测量范围 2 ~ 1023 , 量程分档: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自动换档或手动换档
固有误差 ≤ 5 % ± 满度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ), ≤6% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)
工作误差 ≤7% ± 满度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ), ≤8% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)BD916介质损耗测试装置技术特性 :
平板电容器: 极片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可选 极片间距可调范围: ≥15mm 夹具插头间距: 25mm±0.01mm 夹具损耗正切值 ≤4×10-4 (1MHz) 测微杆分辨率: 0.001mm 电感:
线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz,50MHz 233,211 0.9 0.125μH