- 介电常数和介质损耗测试仪
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介电常数介质损耗测试仪工作特性
1.Q值测量
a.Q值测量范围:2~1023;
b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;
c.标称误差
A
C
频率范围
25kHz~10MHz
100kHz~10MHz
固有误差
≤5%±满度值的2%
≤5%±满度值的2%
工作误差
≤7%±满度值的2%
≤7%±满度值的2%
频率范围
10MHz~60MHz
10MHz~160MHz
固有误差
≤6%±满度值的2%
≤6%±满度值的2%
工作误差
≤8%±满度值的2%
≤8%±满度值的2%
2.电感测量范围
A
C
14.5nH~8.14H
4.5nH~140mH
3.电容测量
A
C
直接测量范围
1~460p
1~205p
主电容调节范围
40~500pF
18~220pF
准确度
150pF以下±1.5pF;
150pF以上±1%
150pF以下±1.5pF
150pF以上±1%
注:大于直接测量范围的电容测量见使用方法。
4.信号源频率覆盖范围
A
C
频率范围
10kHz~60MHz
0.1~160MHz
CH1
10~99.9999kHz
0.1~0.999999MHz
CH2
100~999.999kHz
1~9.99999MHz
CH3
1~9.99999MHz
10~99.9999MHz
CH4
10~60MHz
100~160MHz
频率指示误差
3×10-5±1个字
5.Q合格指示预置功能:预置范围:5~1000
6.Q表正常工作条件
a. 环境温度:0℃~+40℃;
b.相对湿度:<80%;
c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
7.其他
a.消耗功率:约25W;
b.净重:约7kg;
c.外型尺寸:(宽×高×深)mm:380×132×280。
介电常数介质损耗测试仪电感器:
按测试频率要求,需要配置不同量的电感器。
例如:在1MHz测试频率时,要配250μH电感器,在50MHz测试频率时,要配0.1μH电感器等。
高频介质样品(选购件):
在现行高频介质材料检定系统中,检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。该样品由人工蓝宝石,石英玻璃,氧化铝陶瓷,聚四氟乙烯,环氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm测试样品。用户可按需订购,以保证测试装置的重复性和准确性。
介电常数介质损耗测试仪主要技术指标:
2.1 tanδ和ε性能:
2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz~120MHz的tanδ和ε变化的测试。
2.1.2 tanδ和ε测量范围:
tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50
2.1.3 tanδ和ε测量精度(1MHz):
tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%
工作频率范围:50kHz~50MHz 四位数显,压控振荡器
Q值测量范围:1~1000三位数显,±1Q分辨率
可调电容范围:40~500 pF ΔC±3pF
电容测量误差:±1%±1pF
Q表残余电感值:约20nH
2 使用条件
①环境温度: 0~40℃
②相对温度:≤70%
③供电电流:交流 220V±10%50Hz
2.3 仪器可连续工作 8 小时
2.4 消耗功率:约 10W
2.5 外形尺寸:长宽深 355mm×320mm×145mm
2.6 重量:约 6kg(主机)