- 绝缘高频介电常数与介质损耗测试仪
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绝缘高频介电常数与介质损耗测试仪主要技术指标：
2.1 tanδ和ε性能：
2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz～120MHz的tanδ和ε变化的测试。
2.1.2 tanδ和ε测量范围：
tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50
2.1.3 tanδ和ε测量精度（1MHz）：
tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%
工作频率范围：50kHz～50MHz 四位数显，压控振荡器
Q值测量范围：1～1000三位数显，±1Q分辨率
可调电容范围：40～500 pF ΔC±3pF
电容测量误差：±1%±1pF
Q表残余电感值：约20nH
绝缘高频介电常数与介质损耗测试仪使用方法
高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。
1．测试注意事项
a．本仪器应水平安放；
b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；
c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；
d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；
e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；
f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。
2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）
仪器技术指标：
☆Q值测量：
a．Q值测量范围：5～999。b．Q值量程分档：30、100、300、999、自动换档。
c．标称误差
频率范围：25kHz～10MHz；固有误差：≤5％±满度值的2％；
工作误差：≤7％±满度值的2％；
频率范围：10MHz～50MHz；固有误差：≤7％±满度值的2％；工作误差：≤10％±满度值的2％。
☆电感测量：
a．测量范围：0.1μH～1H。
b．分 档：分七个量程。
0.1～1μH，1～10μH，
10～100μH，
0.1～lmH，
1～10mH，
10～100mH，
100 mH～1H。
☆电容测量：
a．测量范围：1～460pF(460pF以上的电容测量见使用规则)；
b．电容量调节范围
主调电容器：40～500pF；
准 确 度：
150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％；
微调电容量：－3pF～0～＋3pF；
准 确 度：
±0.2pF。
☆振荡频率：
a．振荡频率范围：25kHz～50MHz；
b．频率分档
25～74kHz，74～213kHz，
213-700kHz，
700kHz～1.95MHz，
1.95MHz～5.2MHz，5.2MHz～17MHz，
17～50MHz。
c．频率误差：2×10-4±1个字。
☆Q合格指示预置功能，预置范围：5～999。
正常工作条件
a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：<80％；
c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
☆试样尺寸
圆片形：厚度2+0.5mm，
直径为Φ30~40mm（ε<12时），
Φ25~35mm（ε=12~30时），
Φ15~20mm（ε>30时）
☆其他
a．消耗功率：约25W；b．净重：约7kg；
c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。
☆ Q合格指示预置功能
预置范围：5～1000。
特点：
◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。
◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。
◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。
◎ Q值量程自动/手动量程控制。
◎ DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。独立信号 源输出口，所以本机又是一台合成信号源。
◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。