- 新300C四探针方块电阻测试仪
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新300C四探针方块电阻测试仪软件功能(选配):软件可记录、保存、各点的测试数据;可供用户对数据进行各种数据分3档分选功能:超上限,合格,超下限,可对被测件进行HI/LOW判断,可直接在LCD使用标志显示;也可通过USB接口、RS232接口输出更为详细的分选结果。
电热鼓风干燥箱带有自动控温装置,能保持温度在(120±5)℃。
当被测样品的长度和宽度远大于探针间距时,薄膜方阻可表示为:
试验数据处理结果表示数值修约按GB/T 8170规定进行,取到小数点后一位。厚度单位为微米;方阻值单位为欧姆每方块。最终结果表示为“在多少厚度下,方阻值为多少"的形式。
试剂或材料乙醇,体积分数≥95%,化学纯。基片材质可耐受温度≥120℃,基片表面粗糙度为0.5µm ~ 1.5µm。宜选用厚度2mm ~ 5mm的玻璃。
T/CGIA 001-2018 石墨烯材料术语和代号
试验步骤:样品片涂布在基片表面滴上乙醇,将基片表面清洁干净,干燥后待用。将待测石墨烯导电油墨拌均匀,静置约10min,无泡后取3g~5g样品,均匀铺展在基片一端,调节涂布器涂布厚度,将涂布器由铺展油墨端匀速刮向另一端,使油墨均匀涂布的基片表面,即得待测片。
本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料之电导率。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电导率单位自动选择,BEST-300C 材料电导率测试仪自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成图表和报表。
新300C四探针方块电阻测试仪GB/T 8170 数值修约规则与极限数值的表示和断定
可配合多种探头进行测试;也可配合多种测试台进行测试。
膜层厚度测试将样品置于平板上,使用千分表测量基片未涂布区域厚度,平移样品片,使千分表测量头置于涂布膜层上,选取14µm~ 16µm厚度的涂布膜层的位置,重复测量3次(最大值与最小值不超过1µm),取平均值作为点的膜层厚度,并记录测试结果。
校正功能:可手动或自动选择测试量程 全量程自动清零。 析。
便于查看的显示/直观的操作性:高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD显示;操作易学,直观使用;
即方阻与电阻率成正比,与厚度d成反比。方阻一般采用四探针来测量,测量装置见图1.四根探针等间距的排列成一条直线,彼此相距S为测量时针尖压在薄膜样品的表面,外面两根探针通电流ι,里面两根探针利用电位差计测量电压V。
千分表测量范围为0mm~1mm,精度为0.001mm。
JJG 508-2004 四探针电阻率测试仪检定规程
样品片干燥将待测片水平放置不小于10min,然后放放电热鼓风干燥箱中,控制温度在(120±5)℃,干燥30min,使涂布膜层*干燥、固化。取出待测片,置于试验条件下,使待测片表面温度降至室温,得到样品片。
适用范围厚度可预设,自动修正样品的电阻率,无需查表即可计算出电阻率。
双电测测试模式,测量精度高、稳定性好.
具备温度补偿功能,修正被测材料温漂带来的测试结果偏差。
正反向电流源修正测量电阻误差
四端测试法是目前较*之测试方法,主要针对高精度要求之产品测试;本仪器广泛用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。
自动进行电流换向,并进行正反向电流下的电阻率(或方块电阻)测量,显示平均值.测薄片时,可自动进行厚度修正。
石墨烯导电油墨方阻测定
标配:测试平台一套、主机一套、电源线数据线一套。
试验条件:温度15℃~35℃;相对湿度 45%~75%;大气压力:86 kPa~106 kPa。
仪器设备:涂布器有效涂布宽度150mm,涂布厚度0µm ~ 3500µm,精度±2µm。
本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值、温度、压强值、单位自动换算,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
四位半显示读数;八量程自动或手动测试;
将石墨烯导电油墨用可调试涂膜器涂布在基片上,经烘箱干燥后,膜层厚度14µm~16µm,在恒定温度、湿度条件下,使用四探针测试仪,测试膜层的方阻,即为该厚度下的方阻值。
导电材料电阻测试仪BEST-300C
测量范围宽: 电阻:10-4Ω-10-5Ω ;方阻:10-4Ω/□-105Ω/□;
四探针测试仪JJG 508-2004 I级。
测试模式:可连接电脑测试、也可不连接电脑单机测试。
平板400mm×400mm,JJG 117-2013级。
石墨烯导电油墨 graphene conductive inks:以石墨烯材料为主要导电介质,分散在连结料中制成的油墨,具有一定程度导电性质,可作为印刷电点或导电线路之用。
注:本文件只给出推荐样品量,试验人员可根据导电油墨固含量以及基片面积进行调整。 比较器判断灯直接显示,勿需查看屏幕,作业效率得以提高。
原理:对于具有一定导电性能的薄膜材料,其沿着平面方向的电荷传输性能一般用方阻来表示,对于 长为厚度为d的方形薄膜,其方阻可表示为:
方阻测试打开四探针测试仪,调至方阻测试功能档位,输入对应测试参数,测量样品片在膜层厚度测试位置的方阻值。
本标准规定了石墨烯导电油墨的测定方法,碳纳米管导电油墨以及其他碳材料导电油墨方阻的测定也可参照本文件执行。